荧光测厚仪
荧光测厚仪,即x射线荧光镀层测厚仪,利用X-射线照射物体待测部位,从而使镀膜、素材及中间层膜产生特定的X-射线,检测系统将其转换为与X射线强度成比例的电信号,经由仪器记录处理即可得到镀膜的厚度。X射线荧光镀层测厚仪,有着快速、准确、非破坏、非接触、小面积测量、多层合金测量、高生产力、高再现性等优点,对产品质量管理及企业成本节约有着重要作用,广泛应用于电子元器件、半导体、PCB、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器等行业。
 
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